LCR測(cè)試儀,基本精度±0.08%,高速測(cè)試20ms,顯示屏幕放大功能,測(cè)試頻率可自動(dòng)設(shè)定改變,9442列表機(jī)可將測(cè)試值及比較結(jié)果列印.
技術(shù)參數(shù)
| 測(cè)量參數(shù) |
|Z|,|Y|,θ,Rp(ECR),G,X,B,Cp,Ls,D(tan δ)和Q |
| 測(cè)量范圍|Z|,R,X |
10.00mΩ to 200.00MΩ |
| θ |
-180.00°to +180.00° |
| C |
0.320pfto 380.00F |
| L |
16.000nH to 750.00kH |
| D |
0.00001 to 9.9999 |
| Q |
0.01 to 999.99 |
| |Y|,G,B |
5.0000 ns to 99.999s |
| 基本精度 |
Z:±0.08rdg.θ:±0.05° |
| 測(cè)量頻率 |
DC,42Hz to 5MHz |
| 信號(hào)電平 |
10mv to 5 V rms
10μ A to 100mA rms |
| 輸出阻抗 |
50Ω |
| 顯示屏 |
LCD帶背光(全五位) |
| 測(cè)試時(shí)間 |
SLOW 1/2:100ms/180ms |
| 設(shè)置存貯 |
最大30個(gè)設(shè)置 |
| DC bias |
Eternal DC bias± V max.(option) |
| 擴(kuò)展接口 |
GP-IB ro RS-232(selectable options),external I/O for sequencer
use |